Tests
In der Plattenansicht gibt es im Bereich Tests fünf Test-Typen und die Testpläne. Pro Platte läuft immer nur ein Job. Die angezeigten Dauern sind Schätzungen (für Lese- und Schreibzeiten werden etwa 150 MB/s angenommen, für SMART-Tests die Zeitangabe der Firmware).
| Test | Was passiert | Zerstörend |
|---|---|---|
| SMART Kurztest | Kurzer Firmware-Selbsttest, erkennt grobe Fehler. Dauert wenige Minuten. | nein |
| SMART Langtest | Vollständiger Oberflächentest durch die Platten-Firmware (Extended). Dauert je nach Größe mehrere Stunden. | nein |
| Lese-Scan | Liest die ganze Platte mit badblocks (nur lesend). Daten bleiben erhalten. | nein |
| Schreibtest | badblocks schreibt 4 Muster über die ganze Platte, liest zurück und vergleicht. Mit der Option „Schnell“ wird nur ein Zufallsmuster verwendet (etwa 4-mal schneller). | ja |
| Burn-in | SMART Kurztest, Schreibtest und SMART Langtest nacheinander. | ja |
Der Schreibtest (badblocks -w) zerstört alle Daten auf der Platte.
Sicherheit bei zerstörenden Tests
- Zerstörende Tests starten erst nach ausdrücklicher Bestätigung: Die Seriennummer (bei Platten ohne Seriennummer die Kennung) muss eingetippt werden.
- Platten mit eingehängten Partitionen, aktivem Swap, aktiven RAID/LVM-Geräten oder das System-/Boot-Laufwerk sind für zerstörende Tests gesperrt. Das System-Laufwerk trägt die Plakette „System“, andere belegte Platten „In Benutzung“ mit dem Grund. Das erzwingt der Dienst selbst, nicht nur die Oberfläche.
- Platten, auf denen nur alte RAID-/LVM-/ZFS-/LUKS-Signaturen liegen, sind für Tests gesperrt, lassen sich aber mit Schnell löschen bereinigen (siehe Löschen).
- Vor jedem Schritt prüft der Dienst erneut, ob unter dem Pfad noch dieselbe Platte steckt, und er verweigert den Start, wenn bereits ein anderer
badblocks-Prozess auf dem Gerät arbeitet. - Prüfe vor jedem zerstörenden Lauf Modell und Seriennummer in der Oberfläche und vergleiche mit dem Aufkleber auf der Platte.
- Beim Stoppen des Dienstes werden laufende
badblocks-Prozesse beendet. Als „läuft“ gespeicherte Jobs werden beim nächsten Start als „unterbrochen“ markiert.
Testpläne
Ein Testplan ist eine geordnete Liste von 1 bis 8 Schritten, die nacheinander als ein Job laufen. Jeder Schritt darf höchstens einmal vorkommen; der erste fehlgeschlagene Schritt beendet den Job. Mögliche Schritte: SMART Kurztest, SMART Conveyance-Test, Lese-Scan, Schreibtest, SMART Langtest, Schnell löschen, Überschreiben und Verifizieren.
Ein Plan mit einem schreibenden Schritt (Schreibtest, Schnell löschen, Überschreiben) ist zerstörend: Er braucht eine Platte, die nicht in Benutzung ist, und die Bestätigung per Seriennummer.
Vorgegebene Pläne (nicht änderbar):
| Plan | Schritte |
|---|---|
Schnellcheck (quick-check) | SMART Kurztest |
Vollständiger Lesetest (full-read) | SMART Kurztest, Lese-Scan, SMART Langtest |
Burn-in (burn-in) | SMART Kurztest, Schreibtest, SMART Langtest |
Burn-in schnell (burn-in-quick) | SMART Kurztest, Schreibtest mit Option „Schnell“, SMART Langtest |
Löschen und prüfen (wipe-and-check) | Schnell löschen, SMART Kurztest |
Eigene Pläne werden unter Einstellungen angelegt, geändert und gelöscht; sie stehen danach in der Plattenansicht und für die Automatik zur Auswahl. Pro Plan lassen sich Optionen setzen: „Schnell“ für den Schreibtest sowie Verfahren (Nullen oder Zufall), Durchläufe und abschließender Null-Durchgang für das Überschreiben.
Empfohlener Ablauf für alte NAS-Platten
- Platte anschließen, SMART-Grundzustand ansehen und notieren (Reallocated, Pending, Offline Uncorrectable, Power-On-Hours, UDMA-CRC-Fehler).
- SMART Kurztest starten, danach den SMART Langtest (Extended). Das dauert je nach Größe mehrere Stunden.
- Destruktiver Schreibtest (4 Muster) über die ganze Platte. Bei großen Platten dauert das Tage; der Fortschritt ist in der Oberfläche sichtbar.
- Danach erneut die SMART-Werte prüfen und mit dem Ausgangszustand vergleichen, anschließend nochmal einen SMART Langtest.
Der Burn-in fasst die Schritte 2 bis 4 (Kurztest, Schreibtest, Langtest) in einem Job zusammen. Mit der Automatik läuft ein Plan direkt nach dem Einstecken an.
Ergebnisse lesen
Jeder Job vergleicht die kritischen SMART-Zähler (5, 197, 198, 187, 199 und bei NVMe die Media Errors) vor und nach dem Lauf. Steigt ein Zähler, entsteht ein Befund wie „Reallocated Sectors: 0 → 8“. Der Testverlauf der Platte zeigt für jeden Job Ergebnis, Dauer, Befunde und Log.
Der Job-Status ist:
- bestanden: Alle Schritte liefen fehlerfrei. Nach jedem beendeten Schritt wird die Phasenanzeige zurückgesetzt, ein bestandener Job zeigt also keinen laufenden Selbsttest mehr.
- fehlgeschlagen / Fehler: Ein Schritt hat Fehler gefunden oder ist ausgefallen.
- abgebrochen: Vom Nutzer gestoppt.
- unterbrochen: Der Dienst wurde während des Jobs beendet.
Das Verdict der Platte bewertet danach den SMART-Stand:
- Gut (PASS): keine badblocks-Fehler, SMART-Gesamtstatus PASSED, keine kritischen Zähler gewachsen. Die Platte kann weiterverwendet werden.
- Warnung: kleine Auffälligkeiten (z. B. wenige neu umgelagerte Sektoren, hohe Betriebsstunden, CRC-Fehler, oft Kabel oder Adapter). Beobachten, nicht für wichtige Daten ohne Redundanz verwenden.
- Defekt (FAIL): badblocks fand Fehler, ein SMART-Selbsttest meldet Lesefehler, es gibt Pending-/Uncorrectable-Sektoren oder der SMART-Gesamtstatus ist FAILED. Platte aussortieren.
Maßgeblich ist die Begründung, die das Verdict in der Oberfläche auflistet. Details zu den einzelnen Befunden stehen unter Bedienung.